A difratometria de raios X corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicações em diversos campos do conhecimento, mais particularmente na engenharia e ciências de materiais, engenharias metalúrgica, química e de minas, além de geociências, dentre outros.
Os padrões de difração obtidos foram comparados com os registros cristalográficos básicos que compõem o banco de dados do Centro Internacional de Dados Difração (ICDD) disponível com o software do equipamento.
